Analiz Adı: 
Cihaz Analiz Detayı

 

  • FIB-SEM 

Sahip olduğu dedektörler:

  • İkincil elektron detektörü,
  • Geri saçılan elektron detektörü,
  • Everhart-Thornley SE dedektörü,
  • Dairesel pnömatik geri çekilebilir minimum 5 segment geri saçılma dedektörü

-EDS Dedektörü

-EBSD dedektörü

-FIB kolonu

 

Kurulum aşamasında
  • XRD                                                                                                                                                                                                            
  • Toz analizi
  • Kalıntı gerilim analizi
  • Faz tanımı
  • Rietveld analizi
  • Kutup figürü
  • Dikeu gonyometre θ/θ konfigürasyonunda çalışacak.
  • Kristallik derecesi tayini
  • Kombine XRD-XRF analizi
  • Bütün toz desen ayrışması
  • Mikro yapı analizi
  • Kantitatif faz analizi
  • Ortak arıtma
  • Absorpsiyon kenar modellemesi
  • Çift dağılım fonksiyonu (PDF) analizi

Kurulum aşamasında
Numune Özellikleri: 
Test Standartları: