• ZEISS Axio Lab. A1 ters metal mikroskobu

          Teknik Özellikler için tıklayınız

• Tane boyutu sayımı ve dağılımı,
• Çoklu faz tespiti ve dağılımı,
• İnlukzon analizi,
• Karanlık alan,
• Aydınlık alan çalışmaları yapılabilmektedir.

• Hitachi SU3500 T2 Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM)

• Oxford XACT Elektron Dağılım Spektroskopisi (EDS)

     Teknik Özellikler için tıklayınız

• Demir ve demir dışı bulk/toz malzemeler, Seramik, kompozit, polimer vb. malzemelerin yüzey ve kesit görüntülemesi
• Boyut ve şekil karakterizasyonu
• Hasar analizleri
• 3 nm kadar mikroyapı görüntüleme
• İnklüzyon analizleri
• 3 nm çözünürlüğe kadar (numune uygunluğuna bağlı) inceleme ve analiz 
• Düşük vakum çalışmaları 

• Shimadzu G21D      

     Teknik Özellikler için tıklayınız

• Metalik malzemeler, Kaplanmış malzemeler,  Isıl işlem görmüş yüzey ve kesitler, Seramikler için,
• 1 gr – 2000 gr yük hassasiyeti,
• Vickers ve Knoop yöntemleri ile sertlik ölçümü,
• Kırılma Tokluğu (Kc) hesaplanması.

• Ernst AT250 Universal Sertlik Test Cihazı    

      Teknik Özellikler için tıklayınız 

• Alüminyum malzemelerin sertlik ölçümü
• Isıl işlem görmüş malzemelerde sertlik ölçümü
• Rockwell Ölçümleri: A-B-C skalaları, 60-100-150 kg yükleri ile yapılabilmektedir.
• Brinell Ölçümleri: HB5-HB10-HB30 skalaları, 62,5-125-187,5 yükleri ile yapılabilmektedir. 

• ALŞA 100kN Elektromekanik Cihaz

      Teknik Özellikler için tıklayınız 

• 0 – 14 mm ye kadar levha
• 0 – 16 mm’ye kadar dolu ve boş çubuk, (iç dolum aksesuarları olmak kaydıyla)
• 0 – 150 mm’ye kadar basma yüzeyi,
• 10 – 300 mm’ye kadar (mesnet açıklığı) yassı ürünlere 3 nokta eğme testi

Numune Özellikleri:

1. Çekme Testi için numuneler TS EN ISO 6892-1 standardına göre hazırlanmış olmalıdır.
2. Basma Testi için (Numune Yüksekliği = 1,5 x Numune Çapı) olmalıdır.